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掀起激光粒度仪学术热议 真理光学闪耀第十届颗粒学会年会
  • 发布日期:2018-08-14     信息来源:      浏览次数:358
    •         2018810日,中国颗粒学会第十届学术年会暨海峡两岸颗粒技术研讨会在辽宁省沈阳市盛大开幕,会期三天。真理光学仪器有限公司作为本次会议的赞助单位,以会议报告、仪器展示,礼品赞助等多种形式参与了此次盛会。

      真理光学首席科学家张福根博士在大会主场作了题为“激光衍射法粒度测量的若干基础理论与技术问题研究”的报告,详细阐述了激光粒度仪的测量原理。张博士从事激光粒度仪的研究和开发工作近30年,他带领的真理光学研发团队发现,散射光斑有时会随颗粒的增大而增大,这种现象称之为爱里斑尺寸的反常变化(ACAD)。真理光学研发团队根据ACAD规律,开发出全新的反演算法,无需任何软件方面的“特殊处理”,就能得到正确的测量结果。

       

       

      本次会议,真理光学展示了LT2200系列激光粒度分析仪和Spraylink超高速实时喷雾粒度分析仪,吸引众多行业专家,学院教授和企业技术人员来到展台咨询及洽谈。

       

       

      LT2200系列激光粒度仪加持了真理光学独创的偏振滤波专利技术,摒弃传统的针孔和机械调整,实现高稳定激光偏振设置和空间滤波;测量速度高达创纪录的每秒20000次,确保不漏检任何粒径和形状的颗粒;LT2200系列粒度仪的粒径范围为0.02um-2200um, 适用于制药,电池材料,地质,水文,化工和磨料等诸多行业的颗粒粒度分析。

      Spraylink系统使用最优化的高灵敏度检测和全息信号处理系统,并融合高浓度补偿技术,可确保在高达90%的遮光度下准确测量雾滴颗粒的粒度分布。且无需更换透镜,粒径范围高达0.1um-2080 um

       

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